寸法検査用の3Dスキャナーは、要求公差、基準、測定する形状、検査手順から選びます。カタログ精度に加え、対象物の固定、表面状態、位置合わせ、検査ソフトまで含めて妥当性を確認してください。全面の偏差表示と、図面要求に対する合否判定は別の作業です。
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写真から製品の用途・構成を確認できます。適合は対象物と必要な成果物に合わせてご相談ください。
測る項目と基準座標を先に決める
CADとスキャンデータを重ねる方法によって、同じ形状でも偏差の見え方が変わります。図面で指定された基準を使うのか、形状全体に合わせるのかを決め、検査ソフトの位置合わせ方法を記録します。
全面を取得できても、穴の底、狭い内面、鋭いエッジなどは必要な点が取れていない場合があります。評価したい幾何要素を取得できるかを確認し、不足する箇所は接触プローブや他の測定手段と使い分けます。
| 確認する対象 | 検証の観点 | 候補の考え方 |
|---|---|---|
| 広い自由曲面 | 欠損、位置合わせ、全体の座標 | ハンディ・トラッキング |
| 測定台へ置ける部品 | 固定、姿勢変更、繰返し | 固定式・デスクトップ自動取得 |
| 基準穴や隠れた点 | 接触可否、追跡、測定力 | プローブとスキャンの併用 |
| 繰り返す検査工程 | 治具、経路、判定と記録 | 自動測定システムを検討 |
取得から判定までの条件を揃える
製品仕様の試験条件と、実際の測定条件は一致するとは限りません。温度や振動、固定治具、表面処理、測定距離、マーカーや基準具を記録します。装置の校正に加え、実ワークと要求項目に対する測定手順を確認する必要があります。
同じ対象を繰り返し測る場合は、装置だけでなく、対象の置き直しや作業者の変更、解析設定の変更も分けて評価します。ばらつきが小さくても基準からずれている場合があるため、繰返し性だけで正確さを説明しません。
- 取得条件:固定・表面・距離・校正
- 解析条件:座標・抽出・フィルター
- 判定条件:公差・不確かさ・記録
ソフトと運用も導入構成に含める
SHINING3D Inspectのような検査ソフトは、取得したデータを基準と比較する役割を担います。必要なCAD形式、検査項目、レポート形式、ライセンスの範囲を確認してください。Omniの本体上での検査とPC用の詳細な解析も、必要な機能ごとに照合します。
AM-DESKなどの自動化を検討する場合は、測定の繰り返しだけでなく、投入・固定・取出し・異常時対応も含めます。これはSK本舗の選定上の提案であり、工程能力や合否判定の保証ではありません。適用は導入する測定手順の検証で判断します。
- 図面要求と基準を評価項目へ落とす
- 実物・治具・環境で取得できるか確認する
- 校正と基準器の情報を確認する
- 置き直し・作業者・解析設定による差を評価する
- 検査結果と元データを追跡できる形で保存する
カラーマップを見る前に、位置合わせを確認する
全面の形状をよく重ねるベストフィットと、図面の基準面や穴を使う位置合わせでは、同じデータでも偏差の分布が変わることがあります。どちらが見栄えよく重なるかではなく、検査目的に合う方法を選びます。
色の範囲も固定して記録します。表示レンジを広げて全体が緑に見えても、測定結果そのものが改善したわけではありません。寸法・幾何公差の判定は、必要な点が取得されていることと評価条件を確認したうえで行います。
検査手順を引き継ぐための記録表
繰り返して使う検査では、別の担当者が同じ条件で実行できる記録を残します。次の表は測定手順を準備するための整理例です。
| 工程 | 残す情報 |
|---|---|
| 取得 | 型番、ソフト版、モード、固定状態、表面処理 |
| 位置合わせ | CADの版、基準、使用した面・穴、除外範囲 |
| 評価 | 抽出範囲、フィルター、公差、判定方法 |
| 保存 | 元データ、解析プロジェクト、レポート、再測定の履歴 |
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検査対象と必要な構成を相談出典・情報確認日
- jcgm.bipm.org:計測用語の定義
- jcgm.bipm.org:計測用語の定義
- jcgm.bipm.org:計測用語の定義
- www.shining3d.com:公式資料
- www.3d-scantech.com:公式資料
- www.3d-scantech.com:公式資料
情報確認日:2026年9月11日。仕様・構成は変更される場合があります。上記の公式情報と、SK本舗による選定上の説明を区別して記載しています。




